倒计时5天！2026上海汽车测试及质量监控博览会（Automotive Testing Expo China）即将拉开帷幕，同星智能研发总监徐金鹏博士将带来技术演讲，分享AI工程方法在汽车电子测试领域的最新实践成果，诚邀您现场参与交流。
演讲主题：
可校验模型：汽车电子测试中的 AI 工程方法（Checkable Models: An AI Engineering Method for Automotive Testing）
演讲嘉宾：
徐金鹏（Dr. Xu），同星智能研发总监
时间：
2026年8月27日 14:00-14:25
地点：
上海世博展览馆 1号馆 Technology Presentation Stage（#3100）
演讲摘要
本次演讲提出「可校验模型」：让同一含义保持可执行、可检查、可复核。方法分三步，AI 起草 TAD 文本规格；工具做解析、类型检查、语义检查，并按判据运行模型；工程师确认阈值、优先级、观察窗口和验收结论。现场用 10 ms 电动车窗防夹案例，从完整自然语言需求走到 TAD、真实模型结构，再到覆盖状态、优先级、时间和复位的模型层场景。
演讲大纲
- 了解同一控制意图如何在需求、模型、软件和测试之间分叉，以及可校验模型必须同时回答的五类信息：输入、状态、时间、输出、判据。
- 掌握 AI、工具与工程师的分工：AI 起草 TAD，工具做确定性检查并执行判据，工程师掌握边界与验收。
- 带走三条方法：先写清输入、状态、时间、输出和判据；用 TAD 连接需求、模型和工具；AI 起草，工具检查执行，工程师验收。
8.26-8.28 | 上海汽车测试展
TOSUN同星期待与您见面，现场更有互动好礼，等您打卡~
