2026年8月26-28日，2026中国汽车测试及质量监控博览会（Automotive Testing Expo China）在上海世博展览馆圆满举行。同星智能在1号馆H1-3052展台掀起一场“测试技术热”，AI赋能测试的工程演讲引发全场共鸣。
亮点一：展台互动 | 解锁同星限定周边
本次展会，除了携TSMaster全栈工具链、测试解决方案及六大硬件产品体系集体亮相。同星智能也准备了丰富的现场互动体验，趣味任务、限定周边与展台打卡，让大家在探索和了解产品的同时，也带走一份属于汽车测试展的专属记忆。
亮点二：精彩演讲 | AI工程方法引发全场共鸣
8月27日14:00-14:25，同星智能研发总监徐金鹏博士（Dr.Xu）在上海世博展览馆1号馆带来主题演讲——《可校验模型：汽车电子测试中的AI工程方法》。
演讲现场座无虚席。演讲结束后大批听众意犹未尽，围住徐金鹏博士继续探讨AI与工程师的分工边界、TAD在实际项目中的落地路径等话题，现场交流持续许久。
亮点三：口碑发酵 | 客户咨询热潮涌动
好内容自带传播力。演讲结束后，不少观众径直来到H1-3052展位，就演讲中提到的方法与现场展示的TSMaster功能展开深入交流，直接带动了展位咨询量的明显增长。
- 围绕Testing × AI与可校验模型落地方式的探讨成为咨询热点；
- 诊断一致性测试自动化、总线一致性测试等方案收获大量意向客户；
- 多家整车厂与零部件企业的工程团队现场详细了解了产品细节，并登记了后续测试与合作意向。
小小展台，因为硬核的技术与真诚的交流，成了展馆里人气极高的“打卡点”。
展会落幕，精彩继续
📅 2026年10月27-29日
📍 美国诺维国际汽车测试及质量监控展览会（Automotive Testing Expo North America）
同星智能将以更成熟的产品与方案亮相北美，期待与全球伙伴面对面交流，共同探索汽车测试的无限可能。10月，美国见~
